International Standard
ISO 16700:2016
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Reference number
ISO 16700:2016
Версия 2
2016-08
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2016)
Последний раз этот стандарт был пересмотрен в  2023. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 16700:2016

Формат
Язык
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2016-08
    Этап
    : Подтверждение действия между-народного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 4
    ICS :
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 16700:2016