Ссылочный номер
ISO/TS 25138:2010
Технические спецификации
ISO/TS 25138:2010
Surface chemical analysis — Analysis of metal oxide films by glow-discharge optical-emission spectrometry
Версия 1
2010-12
В время отменен
ISO/TS 25138:2010
42774
Отозвано (Версия 1, 2010)

Тезис

ISO/TS 25138:2010 describes a glow-discharge optical-emission spectrometric method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of metal oxide films.

The method is applicable to oxide films 1 nm to 10 000 nm thick on metals. The metallic elements of the oxide can include one or more from Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn and Al. Other elements that can be determined by the method are O, C, N, H, P and S.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2010-12
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 8
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ