Ссылочный номер
ISO 15470:2004
ISO 15470:2004
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
Версия 1
2004-05
В время отменен
ISO 15470:2004
27191
Отозвано (Версия 1, 2004)

Тезис

ISO 15470:2004 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer shall be described.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2004-05
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 7
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ