Тезис
Describes the metrological characteristics of phase correct filters for the measurement of surface profiles. In particular it specifies how to separate the long and short wave content of a surface profile.
Общая информация
-
Текущий статус: ОтозваноДата публикации: 1996-12Этап: Отмена международного стандарта [95.99]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 213ICS :17.040.20
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
Исправления
Исправление текущего издания; предоставляются бесплатно; не включены в текст действующего стандарта.ОтозваноISO 11562:1996/Cor 1:1998
-
00
-
Пересмотрен
ОпубликованоISO 16610-21:2011