Informations

Domaine des travaux

Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.

Liens utiles

1

Norme ISO publiée *

3

Projets de normes ISO *

13
Membres participants
2
Membres observateurs

* ce nombre inclut les mises à jour

 

Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10

ISO/TC 201/SC 10 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :

ISO/TC 201/SC 10 - Secrétariat

JISC (Japon)

一般社団法人表面化学分析技術標準化委員会
#202 Belcom Tsukuba Building
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japon