Proyecto de trabajo
ISO/WD TR 23683
Surface chemical analysis — scanning probe microscopy — Guideline for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy
Reference number
ISO/WD TR 23683
Edition 1
© ISO 2025
Proyecto de trabajo
En desarrollo
Un grupo de trabajo ha preparado un borrador.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo
    Etapa
    : Borrador de trabajo aprobado para su registro por el CD [20.99]
  • Edición
     : 1
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS actualizaciones

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Esta norma contribuye al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible

9
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