Reference number
ISO 11938:2012
ISO 11938:2012
© ISO 2024
International Standard
ISO 11938:2012
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy
Edition 1
2012-03
2012-03
ISO 11938:2012
51059
Publicado
(Edición 1, 2012)
Esta publicación se revisó y confirmó por última vez en 2022.
Por lo tanto, esta versión es la actual.
Resumen
This International Standard provides procedures for electron microprobe elemental-mapping analysis using
wavelength-dispersive spectrometry. The choice between mapping with the electron beam moving digitally
across the specimen (electron beam mapping) and mapping with stage movement only (large-area mapping) is
assessed. It describes five types of data processing: the raw X‑ray intensity data method, the k‑value method,
the calibration method, the correlation method and the matrix correction method.
Informaciones generales
-
Estado: PublicadoFecha de publicación: 2012-03Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
-
Edición: 1Número de páginas: 10
-
Comité Técnico :ISO/TC 202/SC 2ICS :71.040.50
- RSS actualizaciones
Ciclo de vida
¿Tiene alguna duda?
Consulte nuestras Ayuda y asistencia
Atención al cliente
+41 22 749 08 88
Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)