Resumen
ISO 15470:2004 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer shall be described.
Informaciones generales
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Estado: RetiradaFecha de publicación: 2004-05Etapa: Retirada de la Norma Internacional [95.99]
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Edición: 1Número de páginas: 4
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Comité Técnico :ISO/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
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PublicadoISO 15470:2017